巴中顯微鏡校準(zhǔn)檢測(cè)-歡迎來(lái)電

坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的儀器校準(zhǔn)項(xiàng)目和方法有哪些？
  (一)環(huán)境條件
  首先坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的安裝地點(diǎn)應(yīng)滿足測(cè)量的溫度、濕度和振動(dòng)的條件，其允許極限值在校準(zhǔn)時(shí)由用戶規(guī)定，在驗(yàn)收檢測(cè)中由生產(chǎn)商規(guī)定。儀器校準(zhǔn)或驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)，用戶可在允許環(huán)境條件極限內(nèi)任意選擇環(huán)境條件。測(cè)量過(guò)程中應(yīng)測(cè)量和記錄環(huán)境溫度的變化和溫度梯度的情況，測(cè)量點(diǎn)應(yīng)不少于4點(diǎn)，分布在不同的方向和高度。

  (二)操作條件
  坐標(biāo)測(cè)量機(jī)運(yùn)行平穩(wěn)，無(wú)部件干涉引起的噪音。運(yùn)行范圍達(dá)到要求。當(dāng)開(kāi)始進(jìn)行校準(zhǔn)或驗(yàn)收檢測(cè)時(shí)，以下程序操作應(yīng)采用制造商操作說(shuō)明書(shū)中的規(guī)定：
    (1)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)啟動(dòng)一預(yù)熱的時(shí)間；
    (2)探針系統(tǒng)的配置和組裝；
    (3)探針針頭和標(biāo)準(zhǔn)球的清潔程序；
    (4)探針系統(tǒng)的。
 (三)標(biāo)準(zhǔn)器的選取
    標(biāo)準(zhǔn)器應(yīng)選擇直徑和形狀經(jīng)校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)圓球，直徑在10mm～30mm之間。坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)球不應(yīng)用作檢測(cè)球。
 (四)儀器校準(zhǔn)項(xiàng)目和方法
  在掃描模式下使用的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的儀器校準(zhǔn)項(xiàng)目是：掃描探測(cè)誤差和掃描檢測(cè)時(shí)間。校準(zhǔn)的原理是通過(guò)掃描檢測(cè)球上四個(gè)目標(biāo)掃描平面確定檢測(cè)球的中心和半徑，掃描探測(cè)誤差按測(cè)得的中心和全部測(cè)定的掃描點(diǎn)問(wèn)的半徑范圍計(jì)算，取*和*小測(cè)量結(jié)果之差的*值。掃描探測(cè)誤差瓦應(yīng)小于*允許掃描探測(cè)誤差。通過(guò)監(jiān)控、記錄從*掃描順序起始中間點(diǎn)到第四掃描順序結(jié)束中間點(diǎn)之間的掃描檢測(cè)所經(jīng)過(guò)的時(shí)間即掃描探測(cè)時(shí)間，掃描探測(cè)時(shí)問(wèn)應(yīng)小于*允許掃描檢測(cè)時(shí)間。具體步驟如下：
   安裝檢測(cè)球，檢測(cè)球應(yīng)不同于探測(cè)系統(tǒng)用的標(biāo)準(zhǔn)球，且其安裝位置應(yīng)與探針?biāo)脴?biāo)準(zhǔn)球的位置不同。檢測(cè)球應(yīng)安裝牢固，以減小晃動(dòng)引入的誤差。
    (2)探針在檢測(cè)球上掃描四條圓曲線，采集并記錄檢測(cè)球的修正掃描線上掃描點(diǎn)的測(cè)量結(jié)果。修正掃描線在檢測(cè)球表面所規(guī)定的四個(gè)目標(biāo)掃描平面內(nèi)。
    (3)按四條修正掃描線測(cè)得的全部掃描點(diǎn)計(jì)算出高斯擬合球的中心。計(jì)算測(cè)得的每個(gè)掃描點(diǎn)的徑向距離。由計(jì)算得到的徑向距離R的范圍算出掃描探測(cè)誤差。計(jì)算任一單個(gè)計(jì)算的徑向距離與檢測(cè)球直徑值的一半之差的**值即為掃描探測(cè)誤差。

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顯微鏡校準(zhǔn)檢測(cè)光電積分式測(cè)色儀的儀器校正流程
1．光電積分式測(cè)色儀的儀器校正原理

    如前所述，由于CIE光譜三刺激值函數(shù)中的x(λ)具有兩個(gè)峰值波長(zhǎng)，所以x(入)可以分為長(zhǎng)波區(qū)域的x1(λ)和短波區(qū)域的xb(λ)，并且其xb(λ)與z(A)的形狀相似，它們之間存在一定的比例關(guān)系即Xb/Z=欠。閑此，光電積分式探測(cè)器的光譜匹配可以有兩種不同的方法：一種是自接將：個(gè)探測(cè)器的光譜響應(yīng)匹配成x(λ)，丁(A)爾入)曲線，另一種是將三個(gè)探測(cè)器的光譜響應(yīng)分別匹配成真，χ(λ)，y(λ)，z(λ)曲線，再利用比例系數(shù)K求得X刺激值即X=X1+Xb=X1+KZ。

    不同的光電探測(cè)器光譜匹配方式導(dǎo)致對(duì)應(yīng)測(cè)色儀器的不同定標(biāo)方法，下面具體討淪這兩種不同的色度校正過(guò)程：

   (1)測(cè)色儀器三個(gè)光電探測(cè)器的光譜響應(yīng)分別匹配成x(λ)，y(λ)，z(λ)曲線

    如圖6-30所示，在光度導(dǎo)軌上把待校匯測(cè)色儀器的探測(cè)器對(duì)準(zhǔn)已知X，Y，Z三刺激值的色源(如標(biāo)準(zhǔn)色板)，調(diào)節(jié)三個(gè)作為光電信號(hào)處理電路的電流—電壓變換器(運(yùn)算放大器)反饋電阻的大小或其后繼放大器的放大倍數(shù)，即圖6-31中的R1，Rv，R12。等，使其顯示的讀數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)色源的三刺激值X，Y，Z—致，儀器即達(dá)到了儀器校正狀態(tài)；

 有些光電積分式色度計(jì)的探頭做成平面狀接收表面，那么其Y通道可以采用照度定標(biāo)的方法進(jìn)行儀器校正，如圖6-32所示。這時(shí)，可把Y通道作為照度計(jì)探測(cè)器，在光度導(dǎo)軌上利用發(fā)光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)燈對(duì)儀器進(jìn)行校正，調(diào)節(jié)Y通道的校正電位器(改變放大器的放大倍數(shù)).

 2．應(yīng)用舉例

    下面以彩色亮度計(jì)的色度校正，為例，說(shuō)明光電積分式測(cè)色儀器的定標(biāo)過(guò)程．

   (1)彩色亮度計(jì)的定標(biāo)

    彩色亮度計(jì)以亮度作為定標(biāo)單位，圖6-33是其采用CIE標(biāo)準(zhǔn)光源A(發(fā)光強(qiáng)度為I)進(jìn)行校正的定標(biāo)裝置示意圖。設(shè)儀器與氧化鎂(或硫酸鋇)白板的距離為r，則氧化鎂白板表面的照度為E=I/r2In。另外，已知氧化鎂白板在標(biāo)準(zhǔn)光源A照明時(shí)的反射比為p，由此便可以計(jì)算出在標(biāo)準(zhǔn)光源A照明下氧化鎂白板的三刺激值X1，r，Z。這里順便說(shuō)明一下氧化鎂白板的反射比p的汁算方法，首先在分光光度計(jì)上測(cè)出氧化鎂白板與*計(jì)量部門(mén)提供的標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比之比值，從而獲得氧化鎂白板的光譜反射比p(λ)，然后應(yīng)用色度學(xué)理論可以計(jì)算出氧化鎂白板在CIE標(biāo)準(zhǔn)光源A照明下的反射比p。

 (1)彩色亮度計(jì)的定標(biāo)

    彩色亮度計(jì)以亮度作為定標(biāo)單位，圖6-33是其采用CIE標(biāo)準(zhǔn)光源A(發(fā)光強(qiáng)度為I)進(jìn)行儀器校正的定標(biāo)裝置示意圖。設(shè)儀器與氧化鎂(或硫酸鋇)白板的距離為r，則氧化鎂白板表面的照度為E=I/r2。另外，已知氧化鎂白板在標(biāo)準(zhǔn)光源A照明時(shí)的反射比為p，由此便可以計(jì)算出在標(biāo)準(zhǔn)光源A照明下氧化鎂白板的三刺激值X1，r，Z。這里順便說(shuō)明一下氧化鎂白板的反射比p的汁算方法，首先在分光光度計(jì)上測(cè)出氧化鎂白板與*計(jì)量部門(mén)提供的標(biāo)準(zhǔn)白板的光譜反射比之比值，從而獲得氧化鎂白板的光譜反射比p(λ)，然后應(yīng)用色度學(xué)理論可以計(jì)算出氧化鎂白板在CIE標(biāo)準(zhǔn)光源A照明下的反射比p。

    當(dāng)氧化鎂白板表面的照度為Z時(shí)，其表面的亮度為：L=PE/π

    儀器校正時(shí)，首先調(diào)節(jié)彩色亮度計(jì)的Y通道，使其顯示的讀數(shù)值等于L0一般，可以調(diào)節(jié)標(biāo)準(zhǔn)燈與標(biāo)準(zhǔn)白板之間的距離，使L=100cd／m2，以方便校正工作。然后，分別調(diào)節(jié)相應(yīng)的X1和Z通道，使三刺激值X1，Y，Z符合上述計(jì)算出的標(biāo)準(zhǔn)光源A照明下氧化鎂白板的三刺激值X1，Y，Z之比值，即校正完成(fst200316hh)。

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