儀器簡(jiǎn)介： JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。 利用200kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)高分辨率圖像的觀(guān)察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。 高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)p松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。 JEM-2100F*設(shè)計(jì)的側(cè)插式側(cè)角臺(tái)，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時(shí)都不會(huì)造成機(jī)械飄移。 SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實(shí)現(xiàn)一體化控制。