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礦物勘探

奧林巴斯手持式礦石分析儀可在以下情況下有效測(cè)量元素的含量：

在獲得資產(chǎn)的過程中，幫助用戶做出適當(dāng)審慎的決定。
在早期的地區(qū)勘察和繪制地圖階段，可對(duì)巖石、碎片、土壤、沉積物等樣本進(jìn)行化學(xué)成份的定性分析。
在勘探早期的轉(zhuǎn)移地區(qū)性土壤、沉積物和冰磧，以及挖溝的階段中，采集定量性數(shù)據(jù)。
辨別礦化趨向及異常現(xiàn)象，定義鉆孔目標(biāo)，擴(kuò)展土壤樣本的勘察邊界。
實(shí)時(shí)調(diào)整采樣和繪圖項(xiàng)目，調(diào)配勘探的預(yù)算經(jīng)費(fèi)。
對(duì)樣本進(jìn)行預(yù)篩選，提高在現(xiàn)場(chǎng)以外的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行檢測(cè)的效率。
在開發(fā)前途的地區(qū)提高采樣的密度。
 

在鉆孔階段從土地中取出樣本時(shí)，可以對(duì)空氣鉆井樣本、RAB（爆破樣本）、RC（逆循環(huán)鉆進(jìn)樣本）和鉆石巖芯等樣本進(jìn)行分析。

礦石品位和處理控制

奧林巴斯手持式礦石分析儀在礦石品位和處理控制的過程中,因其在以下方面的優(yōu)異表現(xiàn)，可為用戶實(shí)現(xiàn)可觀的投資回報(bào)：

可以立即對(duì)露天礦場(chǎng)的爆破孔樣本進(jìn)行篩查，從而減少了對(duì)礦場(chǎng)實(shí)驗(yàn)室的依賴。
Vanta分析儀如果采用了適當(dāng)抽樣方法，可以提高對(duì)地下礦石品位的控制能力。
對(duì)儲(chǔ)礦堆材料的分析有助于制造廠的配料和給料操作。
對(duì)進(jìn)料、沉淀物、精礦及尾料進(jìn)行實(shí)時(shí)分析。
分析精礦和金條中的懲罰元素。
分析硫及其它元素，以確定樣本中的通量調(diào)整。
將硅元素作為石英的替代物進(jìn)行分析。
在SX/EW操作過程中，對(duì)萃余液和各種貧液和富液混合料進(jìn)行分析。
在銅廠和貴金屬?gòu)S中，作為液體比重測(cè)定過程的一部分，對(duì)廢液進(jìn)行檢測(cè)。

環(huán)境治理和教育

環(huán)境監(jiān)控和治理

作為典型的環(huán)境監(jiān)控治理過程中的一個(gè)環(huán)節(jié)，可以使用Vanta分析儀，對(duì)仍在使用和已經(jīng)關(guān)閉的工業(yè)場(chǎng)地或附近場(chǎng)地的土壤、沉積物、灰塵、尾礦中的感興趣元素進(jìn)行辨別。Vanta分析儀還可以用作一種快速可靠的分揀工具，為用戶提供易于歸檔的有關(guān)環(huán)境監(jiān)控的量化記錄。

學(xué)術(shù)科研與教育

Vanta分析儀有助于完成大學(xué)校園內(nèi)實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)，支持本科生和研究生完成科研項(xiàng)目，并在日常的教學(xué)活動(dòng)中，幫助教師完成教學(xué)任務(wù)。

由于Vanta手持式XRF分析儀可以迅速提供結(jié)果，因此不僅可以幫助學(xué)生們了解現(xiàn)代分析方式，辨別各種樣本，而且還可以加深學(xué)生們對(duì)礦物沉積以及與礦床研究相關(guān)的礦石成因等知識(shí)的了解。

堅(jiān)固耐用

符合IP 65/64評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，可以抵御灰塵和雨水的侵襲
通過了從4英尺高處墜落的測(cè)試（MIL-STD 810G），適合復(fù)雜場(chǎng)地和生產(chǎn)環(huán)境
可以在 -10 °C到50 °C的溫度范圍內(nèi)操作 
為裝有硅漂移探測(cè)器的分析儀，提供了金屬自動(dòng)擋板保護(hù)昂貴的探測(cè)器

改進(jìn)創(chuàng)新

采用特有的Axon技術(shù)，X 射線計(jì)數(shù)率，快速、的檢測(cè)結(jié)果，以及優(yōu)越檢出限
接近于理論的分辨率
無需標(biāo)樣自動(dòng)能量校準(zhǔn)，分析儀自動(dòng)進(jìn)行能量校準(zhǔn)，保證了測(cè)試穩(wěn)定性
四核處理器可使用戶在極短的時(shí)間內(nèi)獲得分析結(jié)果

高效多產(chǎn)

簡(jiǎn)單直觀的用戶界面（UI）可使用戶快速瀏覽分析儀的設(shè)置和軟件功能
根據(jù)用戶的特定需求，配置用戶界面
用戶可以自行定制顯示在主屏幕上的功能快捷鍵
通過USB閃存驅(qū)動(dòng)盤、Wi-Fi或藍(lán)牙完成的數(shù)據(jù)導(dǎo)出操作非常簡(jiǎn)單
 

M 系列

Vanta 分析儀具有高性能。每臺(tái)M 系列分析儀都配備有一個(gè)大區(qū)域SDD 硅漂移探測(cè)器， 用戶可選擇50KV 的銠（Rh）或鎢（W）陽極靶材的X 射線管。
主要型號(hào)有：VMR、VMW。
 

C 系列

C 系列Vanta 分析儀匯集了以下特性：高的速度、優(yōu)越的檢出限（ LOD）和寬泛的可測(cè)元素范圍。每臺(tái)C 系列分析儀都配備有一個(gè)高性能SDD 硅漂移探測(cè)器，用戶可以選擇40KV 的銠(Rh) 或鎢(W) 陽極靶材的X 射線管，或者50KV 的銀(Ag) 陽極靶材的X 射線管。
主要型號(hào)有：VCR、VCW、VCA。
 

L 系列

L 系列Vanta 分析儀擁有較高X 射線計(jì)數(shù)率，低電子噪聲設(shè)計(jì)，使得儀器具有的檢出限（LOD)，極高的分析速度和準(zhǔn)確性。每臺(tái)L 系列分析儀都配備一個(gè)高性能Si-Pin 探測(cè)器，和4W 的大功率鎢（W）陽極靶材的X 射線管。
主要型號(hào)有：VLW。
 

技術(shù)規(guī)格