儀器簡(jiǎn)介：

    CS系列電化學(xué)工作站由高速M(fèi)CU、高精度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號(hào)合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動(dòng)電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計(jì)、電化學(xué)噪聲（電偶電流）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測(cè)試等功能，所有測(cè)量功能均可定時(shí)自動(dòng)進(jìn)行，用于無(wú)人值守下的自動(dòng)測(cè)量。
    CS系列包括多種型號(hào)，可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測(cè)量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±2.0A；電流測(cè)量下限為1pA。
   CS studio測(cè)試軟件是CS電化學(xué)工作站的控制平臺(tái)，軟件基于Windows98/ 2000/ XP/win7/8/10操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設(shè)計(jì)規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實(shí)驗(yàn)方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語(yǔ)保持一致，全中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研工作。
    CS studio測(cè)試軟件還具有特別針對(duì)材料和腐蝕電化學(xué)的實(shí)驗(yàn)方法，包括鈍化曲線自動(dòng)或人工反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測(cè)量和補(bǔ)償法。CS Studio分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對(duì)伏安曲線進(jìn)行數(shù)字平滑、積分、微分運(yùn)算，能對(duì)極化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，包括極化電阻R_p，Tafel斜率b_a，b_c，腐蝕電流密度i_corr，腐蝕速率計(jì)算等，還可計(jì)算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
    CS系列電化學(xué)工作站全部采用USB2.0接口與計(jì)算機(jī)通訊，設(shè)備安裝簡(jiǎn)單，即插即用。
    外形尺寸：36.5cm(寬)×30.5cm(深)×16cm(高) 儀器重量：6.5Kg
應(yīng)用領(lǐng)域
1）研究電化學(xué)機(jī)理；物質(zhì)的定性定量分析；
2）常規(guī)電化學(xué)測(cè)試，包括電合成、電鍍和電池性能評(píng)價(jià)；
3）功能材料和能源材料的機(jī)理和制備研究；
4）緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率快速評(píng)價(jià)以及氫滲測(cè)試等；
5）金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)（包括水/混凝土等環(huán)境）中的腐蝕電化學(xué)測(cè)試。
系統(tǒng)配置
每套工作站包括： 
1) 儀器主機(jī)1臺(tái)；
2) CS studio測(cè)試與分析軟件1套；
3) 鉑金電極、參比電極、工作電極及電解池各1支（套）；
4) 模擬電解池1個(gè)；
5）USB數(shù)據(jù)線1條；
6) 電極電纜線/噪聲測(cè)量電纜線1組；
7）電極架（選配*）
8）屏蔽箱（選配*）

技術(shù)參數(shù)：

1、硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位儀電位控制范圍：±10V
電流控制范圍：±2.0A
電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV
電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)
電位分辨率：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz)
電流分辨率：1pA
電位上升時(shí)間：<1μS(<10mA),<10μS(<2A)
輔助數(shù)據(jù)采集24位@100Hz,20bit@1KHz
參比電極輸入阻抗：10¹²歐姆||20pF
電流量程： 2nA～2A, 共10檔
槽壓：±21V
CV 和LSV掃描速度：0.001mV～10,000V/s
CA和CC脈沖寬度：0.0001～1000s
電位掃描時(shí)電位增量：0.1mV@1V/mS
SWV頻率：0.001～100KHz
DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
AD數(shù)據(jù)采集：16位@1MHz,20bit @1kHz
CV的小電位增量：0.075mV
電位和電流測(cè)量低通濾波器
電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置
接口通訊模式：USB2.0

2、電化學(xué)阻抗測(cè)量指標(biāo)
信號(hào)發(fā)生器
頻率響應(yīng)：10μHz～1MHz
交流信號(hào)幅值：1mV~2500mV
直流偏壓：-10~+10V
DDS輸出阻抗：50歐姆
波形：正弦波，三角波，方波
正弦波失真：<1%
掃描方式：對(duì)數(shù)/線性，增加/下降
大負(fù)載電容：1nF；大負(fù)載電感：10μH
信號(hào)分析器
積分時(shí)間：小值：10mS 或者一個(gè)循環(huán)的長(zhǎng)時(shí)間
大值：10⁶個(gè)循環(huán)或者10⁵S
測(cè)量時(shí)間延遲：0~10⁵秒
直流偏置補(bǔ)償
電位自動(dòng)補(bǔ)償范圍：-10V~+10V
電流補(bǔ)償范圍：-1A~+1A
帶寬調(diào)整(Bandwidth)：自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置，共8級(jí)可調(diào) 
CS Studio測(cè)量與控制軟件主要功能 

 注：*氫擴(kuò)散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測(cè)試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350雙恒電位儀。
*光電測(cè)量功能用戶選配。
伏安分析中帶#號(hào)的方法包括相應(yīng)的溶出伏安方法。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保